IC dla Microchip EEPROM 2KBIT I2C

Microchip Technology Inc. 24AA024/24LC024/24AA025/24LC025 to 2 Kbit szeregowy, kasowalny elektrycznie PROM z zakresem napięcia od 1,7 V do 5,5 V. Urządzenie zorganizowane jest jako pojedynczy blok 256 x 8-bitowej pamięci z 2-przewodowym interfejsem szeregowym. Konstrukcja niskoprądowa pozwala na pracę z typowymi prądami czuwania i aktywnymi wynoszącymi odpowiednio tylko 1 μA i 1 mA. Urządzenie posiada możliwość zapisu stron do 16 bajtów danych. Funkcjonalne linie adresowe umożliwiają podłączenie do ośmiu urządzeń 24AA024/24LC024/24AA025/24LC025 na tej samej magistrali dla maksymalnie 16K bitów ciągłej pamięci EEPROM.

1). Pojedyncze zasilanie z pracą od 1,7 V do 5,5 V dla urządzeń 24AA024/24AA025, 2,5 V dla urządzeń 24LC024/24LC025

2). Technologia CMOS o niskim poborze mocy: - Odczyt prądu 1 mA, typowo - Prąd czuwania 1 μA, typowo

3). 2-przewodowy interfejs szeregowy, kompatybilny z I2C™

4). Możliwość kaskadowania do ośmiu urządzeń

5). Wejścia wyzwalania Schmitta do tłumienia szumów

6). Kontrola nachylenia wyjściowego w celu wyeliminowania odbijania się od ziemi

7). Kompatybilność z zegarem 100 kHz i 400 kHz

8). Czas zapisu strony Maksymalnie 5 ms

9). Samoczynny cykl kasowania/zapisu

10). 16-bajtowy bufor zapisu strony

11). Sprzętowa ochrona przed zapisem na urządzeniach 24XX024

12). Ochrona ESD > 4000V

13). Ponad 1 milion cykli wymazywania/zapisu

14). Przechowywanie danych >200 lat

15). Dostępne programowanie fabryczne

16). Pakiety obejmują 8-odprowadzeniowy PDIP, SOIC, TSSOP, DFN, TDFN i MSOP

17). Pakiet 6 odprowadzeń SOT-23, tylko 24XX025

18). Wolne od Pb i zgodne z RoHS

19). Zakresy temperatur: - Przemysł (I): -40°C do +85°C - Motoryzacja (E): -40°C do +125°C

Wing wspiera rozwój oparty na testach za pomocą frameworków testowych unittest, doctest, nose, pytest i Django. Testy zakończone niepowodzeniem można łatwo zdiagnozować i naprawić dzięki zaawansowanemu debugerowi Wing, a nowy kod można pisać interaktywnie w kontekście środowiska uruchomieniowego na żywo skonfigurowanym przez test jednostkowy.